Новости

Май 2019

17 мая 2019
Поддержка scan test в FORMULA HF

Поддержка «скан-тестирования» в текущем году станет доступна пользователям Тестеров линейки FORMULA HF

13 мая 2019
Рабочее место Тестер – Хэндлер

Новое рабочее место на базе Тестеров FORMULA HF и автосортировщиков микросхем производства JHT Design

Март 2019

11 марта 2019
Semicon Китай 2019

Приглашаем Вас посетить наш стенд № T2115

6 марта 2019
Диспетчер внешних устройств

На сайт добавлена статья о новом модуле из состава программного обеспечения Тестеров линейки FORMULA HF

Февраль 2019

18 февраля 2019
Aero India Show 2019

Aero India Exhibition has already carved a niche for itself globally as a premier aerospace exhibition

14 февраля 2019
ЭлектронТехЭкспо 2019

Благодарим всех, кто посетил наш стенд

Декабрь 2018

24 декабря 2018
NEPCON JAPAN 2019

Благодарим всех за посещение нашего стенда!

Ноябрь 2018

26 ноября 2018
AeroDef India 2019

AeroDef India прошла в городе Хайдарабад, известном как центр технологий и инноваций

20 ноября 2018
Получено заключение от МИНПРОМТОРГ

компания ФОРМ получила заключение МИНПРОМТОРГа о подтверждении производства промышленной продукции на территории России

8 ноября 2018
Electronica 2018

Мы продемонстрировали решения для входного контроля на базе популярных моделей тестеров

Октябрь 2018

30 октября 2018
Testing & Control 2018

В Москве прошла Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования

Заказать демонстрацию