Приглашаем посетить практический семинар "Современные инструменты контроля и исследований высокочастотных СБИС" 06.07.17 г.

Приглашаем Вас и Ваших специалистов посетить практический семинар «Современные инструменты контроля и исследований высокочастотных СБИС».

 Семинар состоится 6 июля 2017 г. в 10-30 на территории ФОРМ.

Семинар посвящен эффективному использованию инструментов, разработанных для повышения производительности и достоверности контроля высокочастотных СБИС на всех этапах жизненного цикла.

В ходе семинара специалисты АО «РКС», ПАО «Микрон», АО «НИИМА «Прогресс» поделятся практическим опытом решения задач: 

  1. Испытаний и исследований вновь разработанных типов микросхем,
  2. Производственных и приемочных испытаний серийной продукции,
  3. Сертификационных испытаний,
  4. Входного контроля. 

В нашей испытательной лаборатории мы подробно расскажем о новых разработках в области контроля качества СБИС, а также продемонстрируем их в работе. 

Просим направить в наш адрес ФИО представителей Вашего предприятия для заказа пропуска до 27 июня 2017г.

Всегда рады видеть Вас в стенах нашей Компании - центре компетенций в области измерений и испытаний электронных компонентов и узлов!

Скачать программу семинара