Новости
2019:
Итоги семинара в Санкт-Петербурге
Тема: «Современные решения для автоматизации функциональных испытаний электронной компонентной базы»
Testing&Control 2019
В Москве прошла 16-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования
Electronica India 2019
Спасибо, что посетили наш стенд № EF31 выставке Electronica India
SEMICON Taiwan 2019
Благодарим всех за посещение нашего стенда!
Новый "hard-dock" интерфейс
Разработано новое прижимное устройство (интерфейс "hard-dock") для Тестеров FORMULA HF3
Итоги семинара в Воронеже
8 августа 2019 в городе Воронеж состоялся семинар
Поддержка scan test в FORMULA HF
Поддержка «скан-тестирования» в текущем году станет доступна пользователям Тестеров линейки FORMULA HF
Рабочее место Тестер – Хэндлер
Новое рабочее место на базе Тестеров FORMULA HF и автосортировщиков микросхем производства JHT Design
Semicon Китай 2019
Приглашаем Вас посетить наш стенд № T2115
Диспетчер внешних устройств
На сайт добавлена статья о новом модуле из состава программного обеспечения Тестеров линейки FORMULA HF
ЭлектронТехЭкспо 2019
Благодарим всех, кто посетил наш стенд