Новости

2019:

28 /11
Итоги семинара в Санкт-Петербурге

Тема: «Современные решения для автоматизации функциональных испытаний электронной компонентной базы»

15 /10
Testing&Control 2019

В Москве прошла 16-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования

25 /09
Electronica India 2019

Спасибо, что посетили наш стенд № EF31 выставке Electronica India

13 /09
SEMICON Taiwan 2019

Благодарим всех за посещение нашего стенда!

13 /09
Новый "hard-dock" интерфейс

Разработано новое прижимное устройство (интерфейс "hard-dock") для Тестеров FORMULA HF3

12 /07
Итоги семинара в Воронеже

8 августа 2019 в городе Воронеж состоялся семинар

17 /05
Поддержка scan test в FORMULA HF

Поддержка «скан-тестирования» в текущем году станет доступна пользователям Тестеров линейки FORMULA HF

13 /05
Рабочее место Тестер – Хэндлер

Новое рабочее место на базе Тестеров FORMULA HF и автосортировщиков микросхем производства JHT Design

11 /03
Semicon Китай 2019

Приглашаем Вас посетить наш стенд № T2115

06 /03
Диспетчер внешних устройств

На сайт добавлена статья о новом модуле из состава программного обеспечения Тестеров линейки FORMULA HF

14 /02
ЭлектронТехЭкспо 2019

Благодарим всех, кто посетил наш стенд

Заказать демонстрацию

Нажимая на кнопку “Записаться на демонстрацию”, Вы соглашаетесь с условиями
Политики в отношении обработки персональных данных
и даете согласие на обработку своих персональных данных.