Новости
Октябрь 2019
Testing&Control 2019
В Москве прошла 16-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования
Микроэлектроника 2019
«02» октября 2019 г. в рамках международного форума «Микроэлектроника 2019» компания ФОРМ провела круглый стол в формате Бизнес-диалога
Сентябрь 2019
Electronica India 2019
Спасибо, что посетили наш стенд № EF31 выставке Electronica India
Новый "hard-dock" интерфейс
Разработано новое прижимное устройство (интерфейс "hard-dock") для Тестеров FORMULA HF3
Август 2019
Итоги семинара в Сколково
4 сентября в «Сколково» состоялся семинар «Автоматизация функциональных испытаний электронных компонентов»
Мы вступили в Консорциум
Компания ФОРМ вступила в состав членов правления Консорциума радиоэлектронной промышленности
Июль 2019
Июнь 2019
Итоги семинара в МИЭМ НИУ ВШЭ
29 мая 2019 состоялся семинар, организованный совместно с МИЭМ НИУ ВШЭ
Май 2019
Поддержка scan test в FORMULA HF
Поддержка «скан-тестирования» в текущем году станет доступна пользователям Тестеров линейки FORMULA HF