Новости

Сентябрь 2019

13 сентября 2019
Новый "hard-dock" интерфейс

Разработано новое прижимное устройство (интерфейс "hard-dock") для Тестеров FORMULA HF3

Июль 2019

12 июля 2019
Итоги семинара в Воронеже

8 августа 2019 в городе Воронеж состоялся семинар

Май 2019

17 мая 2019
Поддержка scan test в FORMULA HF

Поддержка «скан-тестирования» в текущем году станет доступна пользователям Тестеров линейки FORMULA HF

13 мая 2019
Рабочее место Тестер – Хэндлер

Новое рабочее место на базе Тестеров FORMULA HF и автосортировщиков микросхем производства JHT Design

Март 2019

11 марта 2019
Semicon Китай 2019

Приглашаем Вас посетить наш стенд № T2115

6 марта 2019
Диспетчер внешних устройств

На сайт добавлена статья о новом модуле из состава программного обеспечения Тестеров линейки FORMULA HF

Февраль 2019

14 февраля 2019
ЭлектронТехЭкспо 2019

Благодарим всех, кто посетил наш стенд

Декабрь 2018

24 декабря 2018
NEPCON JAPAN 2019

Благодарим всех за посещение нашего стенда!

Ноябрь 2018

8 ноября 2018
Electronica 2018

Мы продемонстрировали решения для входного контроля на базе популярных моделей тестеров

Октябрь 2018

30 октября 2018
Testing & Control 2018

В Москве прошла Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования

1 октября 2018
Nepcon Vietnam 2018

Посетители нашего стенда узнали о наиболее популярных моделях линейки Тестеров FORMULA

Заказать демонстрацию

Нажимая на кнопку “Записаться на демонстрацию”, Вы соглашаетесь с условиями
Политики в отношении обработки персональных данных
и даете согласие на обработку своих персональных данных.