Новости

Декабрь 2017

1 декабря 2017
ФОРМ продемонстрирует решения для тестирования электронных компонентов на выставке Semicon Japan 2017

Приглашаем Вас посетить наш стенд на выставке Semicon Japan, которая будет проходить в Токио с 13-15 декабря (павильон 1, стенд 1529)
Наши специалисты представят решения для измерительных задач дизайн-центров, серийного производства ЭКБ, а также входного контроля у конечных потребителей:

  • линейка из 8 типов автоматизированных средств измерений для контроля микросхем, полупроводниковых приборов и реле – Тестеров FORMULA,
  • библиотека TestBox – более 600 готовых Тестовых решений, включающих измерительную оснастку и программу контроля в полном соответствии с ТУ,
  • информационная система Камчатка – инструмент сбора и обработки измерительных данных для обеспечения прослеживаемости жизненного цикла ЭКБ,
  • собственная аккредитованная испытательная лаборатория и метрологическая служба,
  • бесплатная техническая поддержка в течение всего жизненного цикла.


На стенде будут продемонстрированы хорошо зарекомендовавшие себя в отрасли серийные модели Тестеров: FORMULA TT2 для контроля полупроводниковых приборов и FORMULA HF3 для контроля высокочастотных СБИС. Приглашаем Вас оценить простоту и удобство программного обеспечения Тестеров, их высокую производительность и надежность.

Будем рады видеть Вас на выставке Semicon Japan 2017!

Ноябрь 2017

Июль 2017

Июнь 2017

Май 2017

Апрель 2017

Март 2017

Февраль 2017