Разработчик и производитель
Системы FORMULA® BiS:
ООО «ФОРМ», РОССИЯ
КОМПЛЕКС ЭЛЕКТРОТЕРМО - ТРЕНИРОВКИ интегральных микросхем
FORMULA®
BiS-2K
Разработчик и производитель
Системы FORMULA® BiS:
ООО «ФОРМ», РОССИЯ
Комплекс электротермотренировки
FORMULA® BiS‑2K
— контрольно-испытательный комплекс нового поколения для проведения электротермотренировки (далее — «ЭТТ») интегральных микросхем в условиях регулируемой газовой среды и измерения сигналов постоянного тока и напряжения при функциональном и параметрическом контроле интегральных микросхем (далее — «ИМС»).
Комплекс ЭТТ предназначен для:
- проведения отбраковочных испытаний электронных компонентов под электрической нагрузкой в условиях регулируемой газовой среды и воздействием повышенной температуры окружающей среды;
- измерения сигналов постоянного тока и напряжения при функциональном и параметрическом контроле цифровых микросхем регулярной (ОЗУ) и произвольной структуры (ТТЛ, КМОП);
- проверки работоспособности и правильности функционирования объектов контроля (далее — «ОК») в процессе ЭТТ;
- воспроизведение и измерение напряжения постоянного тока для питания испытуемых ОК;
- воспроизведение испытательных сигналов и их передачу на испытуемые ОК;
- установку и поддержание заданного температурного режима ЭТТ в испытательном объеме;
- автоматическую подачу сухого азота перед началом и в процессе испытаний для обеспечения процентного содержания кислорода менее 1% внутри испытательного объема;
- создание и проведение программ испытаний радиоэлектронных элементов и устройств при проведении ЭТТ;
- протоколирование режимов испытаний и параметров сигналов, воздействующих на испытуемые ОК при проведении ЭТТ.
Область применения
Область применения Комплекса ЭТТ Formula® BiS‑2K — предварительные, приемо-сдаточные, квалификационные, периодические и сертификационные испытания ИМС по:
- ОСТ 11 073.013 2008,
- ГОСТ Р 57394 2017,
- ГОСТ 5962 004.8 2012,
- ОСТ 11.073.944,
- ГОСТ РВ 28146 89,
- ГОСТ РВ 20.57.416 98.
ОСНОВНЫЕ технические характеристики
и функциональные возможности
| Наименование параметров | Значение |
|---|---|
| Диапазон воспроизводимых температур, °C | от +50 до +140 |
| Отклонение температуры в полезном объеме камеры от заданного значения в установившимся режиме | ±2 |
| Вариация температуры в полезном объеме камеры, °C: — до 100 °C (включительно) — свыше 100 °C | ±3 ±5 |
| Максимальное количество одновременно испытываемых микросхем, шт., не менее | 56 |
| Количество слотов для установки тестовых решений, шт., не более | 7 |
| Максимальная частота записи/считывания данных в процессе функционального контроля при проведении ЭТТ, МГц, не менее | 1 |
| Время достижения предельного значения воспроизводимой температуры, минут, не более | 60 |
| Максимальное время стабилизации заданного температурного режима после достижения воспроизводимой температуры, минут, не более | 60 |
| Рабочая среда в камере ЭТТ | сухой азот |
| Максимальная утечка сухого азота при проведении ЭТТ, л/час, не более | 15 |
| Потребляемая мощность по трехфазной сети переменного тока с электрическим напряжением 380 В, 50 Гц, кВт, не более | 7 |
| Занимаемая площадь с учетом подводок (азот, электропитание), м2, не более | 4 |
В состав Комплекса ЭТТ Formula® BiS‑2K
интегрирован Тестер Formula®2K
со следующими основными характеристиками:
| Наименование параметров | Диапазоны и значения |
|---|---|
| Число двунаправленных измерительных каналов | 64…256 |
| Диапазон уровней входного/выходного сигнала/амплитуда | –10…+10 В/± 20 В |
| Частота функционального контроля | до 20 МГц |
| Частота канала тактового сигнала | 40 МГц |
| Длительность фронта и среза импульса, не более | 4 нс/ 6 В; 15 нс/ 10 В |
| Измерение интервалов времени одним каналом | от 5 до 10000 нс |
| Объем памяти тестовых векторов/ошибок | 1 М/1 М |
| Ток активной нагрузки | 0,5…24 мА |
| Выходное сопротивление | 50 Ом ± 5 Ом |
| Источники | |
| Число источников (включая 2 прецизионных) | 5…14 |
| Напряжение источников | –20…+20 В |
| Погрешность задания напряжения | от ±(0,35% + 10) мВ |
| Погрешность задания напряжения прецизионным источником | от ±(0,02% + 1) мВ |
| Ток источников | до 2 А |
| Погрешность ограничения тока | от ±(2% + 1) мА |
| Наименование параметров | Диапазоны и значения |
|---|---|
| Измерители | |
| Число измерителей (включая 1 прецизионный) | до 2 |
| Напряжение измерителей | –20…+20 В |
| Погрешность измерения напряжения | от ±(0,5% + 2) мВ |
| Погрешность измерения напряжения прецизионным измерителем | от ±(0,02% + 1) мВ |
| Ток измерителей | от ±(0,02% + 1) мВ |
| Погрешность измерения силы тока | от ±(2% + 12) нА |
| Количество диапазонов по току | 6 |
| Контроль микросхем памяти | Статические ОЗУ |
| Алгоритмическое формирование последовательности адресов | Есть |
| Динамическое резервирование матрицы ОЗУ | Есть |
| Средства управления внешними приборами | |
| Интеграция с зондовыми автоматами испытательным оборудованием и внешними приборами | по интерфейсу GPIB |
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
Управление работой Комплекса ЭТТ Formula® BiS‑2K обеспечивается на базе программного обеспечения Тестера Formula® 2K, разработанного компанией ФОРМ.
Программное обеспечение обеспечивает:
- разработку и отладку измерительных программ;
- создание функциональных тестов для контроля микросхем;
- визуальный анализ временных диаграмм функциональных тестов, полученных из систем автоматизированного проектирования;
- коррекцию временных диаграмм функциональных тестов, полученных из систем автоматизированного проектирования;
- применение табличного редактора тестов для создания, редактирования, отладки и исполнения в наглядном виде тестов статического контроля БИС;
- отладку функциональных тестов;
- применение трассировочного буфера для отладки сложных участков временных диаграмм, с использованием условных переходов, вложенных повторов и других команд ФК;
- применение системного инспектора для управления параметрами системы в сеансе отладки измерительной программы;
- проведение контроля и измерений партий микросхем;
- документирование результатов измерений при проведении контроля и хранение
ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ОСНАСТКА И
ТЕСТОВЫЕ РЕШЕНИЯ TESTBOX
Тестовые решения предназначены для сокращения времени и издержек Потребителя на подготовку процесса измерений ИМС и, как правило, разрабатываются совместно с Комплексами под конкретные ОК Потребителя. Применение готовых Тестовых решений позволяет сразу же приступить к эксплуатации Комплексов, исключив затраты на самостоятельную разработку измерительной оснастки и измерительных программ.
Для быстрого и эффективного внедрения Комплексов ЭТТ Formula® BiS‑2K и скорейшего получения отдачи на инвестиции ФОРМ предлагает Потребителям готовые Тестовые решения, выполненные в виде коробочных продуктов TestBox®. Возможно применение других Тестеров Formula® на базе Комплекса Formula® BiS‑2K для удовлетворения нужд и специфических задач Потребителей.
Платы испытательные. Внешний вид и установка
СЕРВИСНЫЕ УСЛУГИ ПРОИЗВОДИТЕЛЯ
Для сокращения времени и издержек Потребителя на решение любых технических задач, возникающих в процессе эксплуатации Комплексов ЭТТ серии FORMULA® BiS, мы предлагаем комплекс дополнительных сервисных услуг:
- Интеграция Комплексов FORMULA® BiS 2K в технологическую, информационную и испытательную инфраструктуру Потребителя с подключением внешнего оборудования, приборов и сетей
- Техническое обслуживание, ремонт и любой иной технический сервис на месте эксплуатации Комплексов специалистами службы ФОРМ
- Разработку и изготовление специализированной оснастки для испытаний и Тестовых решений (испытательных плат)
- Разработку опций на заказ
- Организацию и проведение аттестации Комплексов по ГОСТ Р 8.568 2017 и при необходимости с учетом требований ГОСТ РВ 0008 002 2013 с привлечением организации, имеющей положительное экспертное заключение, подтверждающее возможность этой организации осуществлять аттестацию испытательного оборудования, применяемого при оценке оборонной продукции
- Сопровождение в рекламационной работе с выездом к Поставщику