Новости

Март 2018

19 марта 2018
ELECTRONICA CHINA 2018, Шанхай 14-16 марта

Наши специалисты представили готовые решения для измерительных задач лабораторий входного контроля, дизайн-центров, серийного производства и испытаний ЭКБ

Февраль 2018

27 февраля 2018
конференция «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2018»

ФОРМ принял участие в Международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой»

Декабрь 2017

1 декабря 2017
выставка Semicon Japan 2017

На стенде были продемонстрированы хорошо зарекомендовавшие себя в отрасли серийные модели Тестеров: FORMULA TT2 для контроля полупроводниковых приборов и FORMULA HF3 для контроля высокочастотных СБИС

Ноябрь 2017

7 ноября 2017
выставка Semicon Europe 2017

Благодарим всех гостей за посещение стенда ФОРМ на выставке Semicon Europe

Июнь 2017

21 июня 2017
Регистрация товарного знака фирменных Тестовых решений - TestBox

Тестовые решения – это «коробочный» продукт компании ФОРМ, состоящий из измерительной программы и контактирующего устройства для измерения конкретных типов ЭКБ, а также Паспорта

Май 2017

25 мая 2017
Рады Вам сообщить о пополнении нашей библиотеки готовых Тестовых решений TestBox

Применение готовых ТР позволит сразу же приступить к измерениям новых типов ЭКБ, исключив затраты на самостоятельную разработку измерительной оснастки и программ контроля, их изготовление, испытания и коррекцию

Апрель 2017

3 апреля 2017
Участие в выставке ЭлектронТехЭкспо 25-27 апреля 2017

Мы познакомили гостей с нашей новой моделью Тестера полупроводниковых приборов – FORMULA TT3

Март 2017

22 марта 2017
Конференция «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2017»

Представители «ФОРМ» приняли участие в практической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой»

Ноябрь 2016

3 ноября 2016
Представляем вашему вниманию новую разработку: Тестер FORMULA SD

Тестер FORMULA SD – универсальное автоматизированное средство измерений статических и динамических параметров полупроводниковых приборов

3 ноября 2016
Обновленная линейка контактирующих устройств

Контактирующие устройства были разработаны специалистами нашей Компании взамен применявшимся ранее изделиям стороннего производства

Май 2016

26 мая 2016
Втрое увеличена скорость «прошивки» на Тестере FORMULA HF Ultra

Теперь начальную инициализацию наиболее высокоинтегрированных ПЛИС, таких как STRATIX4, ф.ALTERA, можно выполнить на тестере FORMULA HF Ultra через «STAPL Player» всего за 22 секунды без использования байтбластера и САПР Quartus

Заказать демонстрацию

Нажимая на кнопку “Записаться на демонстрацию”, Вы соглашаетесь с условиями
Политики в отношении обработки персональных данных
и даете согласие на обработку своих персональных данных.