Новости
2019:
Новый "hard-dock" интерфейс
Разработано новое прижимное устройство (интерфейс "hard-dock") для Тестеров FORMULA HF3
Итоги семинара в Воронеже
8 августа 2019 в городе Воронеж состоялся семинар
Поддержка scan test в FORMULA HF
Поддержка «скан-тестирования» в текущем году станет доступна пользователям Тестеров линейки FORMULA HF
Рабочее место Тестер – Хэндлер
Новое рабочее место на базе Тестеров FORMULA HF и автосортировщиков микросхем производства JHT Design
Semicon Китай 2019
Приглашаем Вас посетить наш стенд № T2115
Диспетчер внешних устройств
На сайт добавлена статья о новом модуле из состава программного обеспечения Тестеров линейки FORMULA HF
ЭлектронТехЭкспо 2019
Благодарим всех, кто посетил наш стенд
2018:
NEPCON JAPAN 2019
Благодарим всех за посещение нашего стенда!
Electronica 2018
Мы продемонстрировали решения для входного контроля на базе популярных моделей тестеров
Testing & Control 2018
В Москве прошла Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования
Nepcon Vietnam 2018
Посетители нашего стенда узнали о наиболее популярных моделях линейки Тестеров FORMULA