Новости
2018:
ELECTRONICA CHINA 2018, Шанхай 14-16 марта
Наши специалисты представили готовые решения для измерительных задач лабораторий входного контроля, дизайн-центров, серийного производства и испытаний ЭКБ
конференция «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2018»
ФОРМ принял участие в Международной научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой»
2017:
выставка Semicon Japan 2017
На стенде были продемонстрированы хорошо зарекомендовавшие себя в отрасли серийные модели Тестеров: FORMULA TT2 для контроля полупроводниковых приборов и FORMULA HF3 для контроля высокочастотных СБИС
выставка Semicon Europe 2017
Благодарим всех гостей за посещение стенда ФОРМ на выставке Semicon Europe
Регистрация товарного знака фирменных Тестовых решений - TestBox
Тестовые решения – это «коробочный» продукт компании ФОРМ, состоящий из измерительной программы и контактирующего устройства для измерения конкретных типов ЭКБ, а также Паспорта
Рады Вам сообщить о пополнении нашей библиотеки готовых Тестовых решений TestBox
Применение готовых ТР позволит сразу же приступить к измерениям новых типов ЭКБ, исключив затраты на самостоятельную разработку измерительной оснастки и программ контроля, их изготовление, испытания и коррекцию
Участие в выставке ЭлектронТехЭкспо 25-27 апреля 2017
Мы познакомили гостей с нашей новой моделью Тестера полупроводниковых приборов – FORMULA TT3
Конференция «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2017»
Представители «ФОРМ» приняли участие в практической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой»
2016:
Представляем вашему вниманию новую разработку: Тестер FORMULA SD
Тестер FORMULA SD – универсальное автоматизированное средство измерений статических и динамических параметров полупроводниковых приборов
Обновленная линейка контактирующих устройств
Контактирующие устройства были разработаны специалистами нашей Компании взамен применявшимся ранее изделиям стороннего производства