Тестовое решение предназначено для контроля функционирования и измерения электрических параметров микросхемы W25Q128JVEIQ по нормам технического оп-сания Winbond Electronics Corporation «3V 128M-BIT SERIAL FLASH MEMORY WITH  DUAL/QUAD SPI» rev. H от 10.03.2021 и согласно метрологическим характеристикам «Системы контрольно-измерительной Тестера СБИС FORMULA HF3М» ФРМИ.411739.015, регистрационный № 70965-18 ГРСИ РФ.
Тестовое решение применяется для автоматизированного измерения и контроля в нормальных климатических условиях, при пониженной температуре и повышенной температуре.

Тестовое решение работает с исполнениями Тестера:
- FORMULA HF3M-2 ФРМИ.411739.015-03.
- FORMULA HF3M-4 ФРМИ.411739.015-02.
- FORMULA HF3M-6 ФРМИ.411739.015-01.
- FORMULA HF3M-8 ФРМИ.411739.015.

Тестовое решение работает с версией программного обеспечения Тестера 1.0.6.34 или более поздней.


Конфигурация Тестера, необходимая для работы Тестового решения, приведена ниже:

Модули Тестера                              Тип модуля               Маркировка на тестере
Канальная электроника                PIN400S                               B03
                                                             PIN400S                               B04