Тестовое решение предназначено для автоматизированного контроля функционирования и измерения электрических параметров интегральных микросхем 1645РУ4БУ (статическое оперативное запоминающее устройство) в соответствии с техническими условиями АЕЯР.431220.643 ТУ в нормальных климатических условиях.

ТР применяется в комплексе с «Системой контрольно-измерительной Тестер СБИС FORMULA HF3-512» или её исполнениями.