Тестовое решение предназначено для автоматизированного контроля функционирования и измерения электрических параметров интегральных микросхем 5576ХС1Т в соответствии с техническими условиями АЕЯР.431260.478 ТУ в нормальных климатических условиях.

ТР применяется в комплексе с «Системой контрольно-измерительной Тестер СБИС FORMULA HF3» или её исполнениями.
Рекомендованная конфигурация Тестера, необходимая для работы:

Платы Тестера                        Тип модуля            Маркировка
Канальная электроника           PIN400                    B1
                                                        PIN400                    B2
                                                        PIN400                    B3
                                                        PIN400                    B4
                                                        PIN400                    B5
                                                        PIN400                    B6