Тестовое решение предназначено для автоматизированного контроля функционирования и измерения электрических параметров интегральных микросхем 5576ХС1Т в соответствии с техническими условиями АЕЯР.431260.478 ТУ в нормальных климатических условиях.

ТР применяется в комплексе с «Системой контрольно-измерительной Тестер СБИС FORMULA HF3» или её исполнениями.