Тестовое решение предназначено для автоматизированного контроля функционирования и измерения электрических параметров интегральных микросхем 1645РК1У (двухпортовое статическое ОЗУ 256К) в соответствии с техническими условиями АЕЯР.431220.791 ТУ в нормальных климатических условиях.

ТР применяется в комплексе с «Системой контрольно-измерительной Тестером СБИС FORMULA HF3» или её исполнениями.