Тестовое решение предназначено для автоматизированного контроля и измерения электрических параметров интегральных микросхем ОЗУ «4M High Speed SRAM (256-kword × 16-bit) R1RW0416DI» пр-ва Renaissance Technology Corporation и контроля их функционирования по техническим требованиям, изложенным в Приложении №9 к договору №11/11 от 27.09.2011 г.
ТР ТР используется совместно с «Адаптер универсальный на 64 канала» ФРМИ.4.448.001-03 и применяется в комплексе c системой контрольно-измерительной для функционального и параметрического контроля БИС и ИМС тестер FORMULA 2К в нормальных климатических условиях.

Рекомендованная конфигурация Тестера, необходимая для работы ТР:

Платы ТестераㅤㅤㅤㅤㅤㅤㅤㅤㅤㅤㅤㅤТип платыㅤㅤㅤㅤㅤМаркировка
Блок параметрических измеренийㅤㅤSVPN−LPSㅤㅤㅤㅤㅤㅤㅤSVPN
Блок канальной электроникиㅤㅤㅤㅤㅤㅤPINKSㅤㅤㅤㅤㅤㅤ  PIN1 - PIN4