Тестовое решение предназначено для автоматизированного функционального контроля и измерения электрических параметров интегральных микросхем LMP7731MF на соответствие нормам приёмки и поставки по техническому описанию LMP7731 (datasheet National Semiconductor July 2007) и согласно метрологическим характеристикам «Системы контрольно-измерительной для функционального и параметрического контроля БИС и ИМС Тестера FORMULA 2K». 

ТР применяется для автоматизированного контроля и измерений в нормальных климатических условиях.