1526ЛА10 ЭП

Тестер: FORMULA 2K
Описание

Тестовое решение предназначено для проведения автоматизированного функционального контроля и измерения электрических параметров интегральных микросхем 1526ЛА10 ЭП в соответствии с техническими условиями АЕЯР.431200.126-07ТУ согласно метрологическим характеристикам «Системы контрольно-измерительной для функционального и параметрического контроля БИС и ИМС Тестера FORMULA 2K».

ТР применяется для автоматизированного контроля и измерений в нормальных климатических условиях.

Заказать демонстрацию

Нажимая на кнопку “Записаться на демонстрацию”, Вы соглашаетесь с условиями
Политики в отношении обработки персональных данных
и даете согласие на обработку своих персональных данных.