1986ВЕ1T

Тестер:
Описание

Тестовое решение предназначено для автоматизированного контроля функционирования и измерения электрических параметров интегральных микросхем 1986ВЕ1T в соответствии с техническими условиями АЯЕР.431280.860ТУ в нормальных климатических условиях.

ТР применяется в комплексе с «Системой контрольно-измерительной Тестер СБИС FORMULA HF2» или её модификациями в нормальных климатических условиях.

Заказать демонстрацию

Нажимая на кнопку “Записаться на демонстрацию”, Вы соглашаетесь с условиями
Политики в отношении обработки персональных данных
и даете согласие на обработку своих персональных данных.