1526ИР2ЭП ОСМ
Описание
Тестовое решение предназначено для проведения автоматизированного измерения и контроля электрических параметров микросхемы двух четырехразрядных регистров сдвига 1526ИР2ЭП ОСМ на соответствие нормам приёмки и поставки по техническим условиям АЕЯР.431200.126-12ТУ и согласно метрологическим характеристикам
"Системы контрольно-измерительной для функционального и параметрического контроля БИС и ИМС тестера FORMULA 2K".