Тестовое решение предназначено для автоматизированного контроля функционирования и измерения электрических параметров интегральных микросхем памяти NAND-flash K9K8G08U0B-PIBO на соответствие Data Sheet «K9K8G08U0B, K9WAG08U1B, 1G x 8 / 2G x 8 Bit NAND Flash Memory – Revision No 0.1 Jul. 10, 2008» фирмы Samsung Electronics, согласно утвержденному техническому заданию на «ТР для измерений и контроля микросхемы K9K8G08U0B-PIBO» и согласно метрологическим характеристикам «Системы контрольно-измерительной Тестера СБИС FORMULA HF3» ФРМИ.411739.005, регистрационный № 48039 ГРСИ РФ.

ТР применяется в комплексе с «Адаптером универсальным» ФРМИ.468359.010 или его исполнением ФРМИ.468359.010-01 и установкой тепло/холод. Испытание проводится в нормальных климатических условиях, при повышенной и пониженной температурах окружающей среды. В качестве установки тепло/холод рекомендуется использовать температурную испытательную систему Temptronic ThermoStream серии TP04300 или ATS-545.
Рекомендованная конфигурация Тестера, необходимая для работы:

Платы Тестера                        Тип модуля            Маркировка
Канальная электроника           PIN400S                        B4