Тестовое решение предназначено для автоматизированного контроля функционирования и измерения электрических параметров интегральных микросхем конфигурационных SRAM памятей для ПЛИС EPC2LI20N на соответствие Data Sheet “Configuration Devices for SRAM-Based LUT Devices – Revision 2.4, Dec. 2009” и согласно метрологическим характеристикам «Системы контрольно-измерительной Тестера СБИС FORMULA HF3-512» ФРМИ.411739.006, регистрационный № 55186-13 ГРСИ РФ.

ТР применяется для автоматизированного контроля и измерений в нормальных климатических условиях .
Рекомендованная конфигурация Тестера, необходимая для работы:

Платы Тестера                        Тип модуля            Маркировка
Канальная электроника           PIN400CA                        B0
                                                        PIN400CA                        B1
                                                        PIN400CA                        B2
                                                        PIN400CA                        B3
                                                        PIN400CA                        B4
                                                        PIN400CA                        B5
                                                        PIN400CA                        B6
                                                        PIN400CA                        B7