Техническая поддержка
При этом только «ключевые» биты Test хранятся непосредственно в памяти векторов ёмкостью 64M, а под вспомогательные биты Blk и Msk в Тестере выделено специальное ОЗУ Атрибутов ёмкостью 8192 слов (что соответствует 13-ти разрядному адресу ОЗУ).
Бит Blk (Block, блокировка) в общем случае служит для перевода драйвера канала Тестера в третье состояние, а бит Msk (Mask, маска) — для игнорирования (при необходимости) результатов работы компараторов. Поэтому необходимость изменения величины этих сигналов (0/1) во время выполнения ФК (т.е. необходимость добавления комбинаций/слов в ОЗУ Атрибутов) возникает обычно только для двунаправленных шин (или отдельных двунаправленных сигналов, которые можно считать шинами единичной ширины), при изменении их направления (direction: вход/выход/Z-состояние).
Как правило, в шине все сигналы переключаются на вход или на выход одновременно. Это означает, что количество комбинаций/слов битов Blk и Msk, которым необходимо выделить место в ОЗУ атрибутов, от ширины шины практически не зависит. Однако количество таких комбинаций зависит от количества обслуживаемых двунаправленных шин.
Для лучшего понимания условно и несколько упрощенно можно считать, что ширина адреса (13 бит) ОЗУ Атрибутов определяет максимальное количество независимых двунаправленных шин (т.е. ~13 шт.), поддерживаемых при тестировании объекта контроля.
ВНИМАНИЕ: не следует путать ограничение по количеству двунаправленных шин с ограничением по количеству «уникальных» векторов в тестовой последовательности. В Тестере FORMULA HF (в отличии, например, от Тестера FORMULA 2K) никаких ограничений на «уникальность» нет, т.е. все 64M векторов могут быть уникальными.
Отметим, что типовой ОК, если и имеет двунаправленные шины, то их количество обычно исчисляется единицами (например, шина данных + шина управления). Многолетний опыт эксплуатации Тестеров показал, что объём ОЗУ Атрибутов в 8192 слов в общем случае со значительным запасом перекрывает практические потребности в создании тестовых последовательностей ТП.
Как нам представляется, в вашей тестовой последовательности выполняется проверка шин не целиком, а по отдельным сигналам/битам. Другими словами, в один момент времени возможно задание различного направления для разных сигналов внутри шины. С точки зрения Тестера это эквивалентно многократному виртуальному увеличению количество двунаправленных шин у тестируемого ОК. Что в конечном итоге приводит к превышению условного порога (~13 шт.) количества поддерживаемых двунаправленых шин.
Рекомендую переработать тестовую последовательность таким образом, чтобы для используемых двунаправленных шин направление для всех составляющих их сигналов по возможности изменялось одновременно.
Если это по каким-либо причинам невыполнимо, можно попробовать разделить ТП на несколько частей (что также приведет к уменьшению количества комбинаций, записываемых в ОЗУ Атрибутов).
P.s.: начиная с модели FORMULA HF3 указанные выше ограничения отсутствуют – в Тестерах поддержан, так называемый, «полноформатный» файл векторов.
Порт JTAG позволит Вам решать следующие задачи:
- осуществлять процесс начальной инициализации (конфигурирования, программирования) той или иной структуры в ИМС (т. н. «прошивка»);
- обеспечить установку выводов ИМС в необходимое состояние (лог.0 / лог.1, вход) «напрямую» через JTAG, с использованием Boundary-Scan цепочки;
- выполнять передачу команд тестирования и сбора данных с целью выявления внутренних дефектов работы кристаллов ИМС, возникающих в динамическом режиме ее работы (в случае поддержания объектом контроля методологии «встроенного самотестирования» BIST);
- выполнять полное или частичное тестирование функционального ядра (внутренней логики) объекта контроля (если Производитель ИМС заложил в структуру возможность использования соответствующей команды).
Порт поддерживает возможность работы с ИМС различного номинального напряжения цепей JTAG, например: 5 В, 3.3 В, 2.5 В.
JTAG – это вспомогательный инструмент для удобства и сокращения времени на измерения заведомо бракованных микросхем. Тестирование по JTAG помогает испытательным центрам и предприятиям-потребителям иностранных покупных компонентов решить вопрос входного контроля, особенно в условиях ограничения финансов, времени, компетенций.
Обращаем внимание, что тестирование по JTAG – это не приемо-сдаточные испытания, а лишь ответ на вопрос, контрафактная продукция или нет. Для обеспечения самотестирования по JTAG микросхема должна быть контролепригодной, то есть иметь встроенные скан-цепочки. За рубежом большая часть микросхем выпускается пригодными для контроля не только по JTAG, но и по всем остальным необходимым методам.
− до 32 источника VDD до 15В и до 400мА,
− до 32 источника VСС до 6В до 4А,
− 8 источников HVDD от -17В до 17В и до 500мА в составе модуля DPSM,
− 2 источника опорного напряжения PRS от -10В до 10В и до 10мА в составе модуля ARP,
− сверхмощный внешний источник питания SPS до 3,5В и до 50А.
В Тестере FORMULA HF Ultra отсутствуют ограничения по длине логического анализатора и цифрового осциллографа – по запросу и по мере возникновения необходимости мы можем сделать любую "величину программного окна".
В настоящее время мы "заложили" на логический анализатор – 500 векторов, на цифровой осциллограф – 100 векторов. На наш взгляд, это оптимальный выбор между временем построения и длиной тестовой последовательности.
Да, это возможно. Нами разработана специализированная переходная плата, позволяющая использовать контактирующие устройства от универсального адаптера Тестера FORMULA 2K с Тестером FORMULA HF.
Нет, не только! Алгоритмический генератор применяется во всех случаях, когда векторную последовательность можно представить алгоритмически. Это может быть и ОЗУ, и микроконтроллер, и даже простейший счетчик.
Да, рекомендации по разработке измерительной оснастки рассказываются в процессе обучения работе с Тестером, а так же приведены в документе «Рекомендации по разработке измерительной оснастки» ФРМИ.411739.005 РЭ13.
В Тестере FORMULA HF максимальное количество векторов 64М (М = 1024х1024).
Одна плата на 32 канала 64М загружается около 1 минуты. Если данные во всех платах различны, то в максимальном случае будет около 8-10 мин. В режиме мультисайт запись проходит еще быстрее благодаря тому, что на одновременно измеряемые ИМС могут записываться одинаковые данные.
Контакты POGO-PIN рассчитаны на максимальный ток 2 А.
При использовании Тестера FORMULA HF в режиме контроля памяти (АГТ) мультиплицировать каналы с целью повышения частоты невозможно. Максимальная частота выполнения векторов в этом случае составляет 100 МГц по каждому каналу.
Алгоритмический генератор – это не отдельное устройство, это все тот же Тестер FHF. Поэтому статические параметры полностью соответствуют спецификации на Тестер FORMULA HF.
У нас есть исчерпывающая документация по алгоритмическому генератору. Отправьте нам официальный запрос и мы с радостью отправим Вам ее по почте.
PPMU - поканальные измерители статических параметров, позволяющие проводить измерение параллельно, что сокращает время выполнения измерительных программ в 3-7 раз по сравнению с измерениями при помощи PMU.
Предусмотрена возможность модернизации тестеров FORMULA HF3/HF3-512.30h, A2h, Е0h – использует плата CROSS
4Eh - индикация «брак/годен» сайтов 0..7
4Ch - индикация «брак/годен» сайтов 8..15
4Ah - индикация «брак/годен» сайтов 16..24
48h - индикация «брак/годен» сайтов 25..31
A4h - ПЗУ (EEPROM) на плате оснастки
AEh – дополнительное ПЗУ на плате универсального адаптера (УАП)
Остальные адреса свободны и могут быть использованы при разработке измерительной оснастки
Да, такая возможность предусмотрена в модификации поворотной стойки, которую можно заказать, если требуется работа с зондом.