Техническая поддержка
В зависимости от выбранного курса Вы сможете освоить основные приемы работы с оборудованием, приобрести углубленные навыки разработки измерительных программ и оснастки с применением основного программного инструментария, а также освоить навыки по поверке Тестеров и локализации неисправностей.
Обращаем внимание, что специалисты, направляемые на стажировку по эксплуатации Тестеров FORMULA 2K и линейки FORMULA HF, должны хорошо понимать физику и логику работы объектов контроля из области применения Тестеров, хорошо ориентироваться в ТУ на эти объекты и иметь общие представления о программировании на алгоритмическом языке высокого уровня. По результатам прохождения стажировки обучающимся будет вручено соответствующее удостоверение на право эксплуатации оборудования.
Программы стажировки по проведению диагностики и поверки Тестеров разработаны с целью сокращения времени простоя оборудования, в результате выхода его из строя или в связи с отправкой для прохождения технического обслуживания и поверки на территорию Изготовителя. Полученные в ходе стажировки знания позволят Вам в полной мере овладеть навыками метрологической аттестации оборудования, а выданные удостоверения предоставят право самостоятельно вскрывать измерительный блок Тестера без потери гарантии, производить локализацию дефектов с точностью «до платы», извлекать неисправный узел для замены или отправки его в ремонт (при наличии ЗИП, технической возможности и согласовании работ с Изготовителем).
Для получения максимального результата все предлагаемые нами курсы стажировок проводятся индивидуально и рассчитаны на группу обучающихся 2-3 человека.
Предлагаем Вам ознакомиться и выбрать заинтересовавший Вас курс из перечня
№ п/п | Название курса | Количество часов |
---|---|---|
1 | Программы стажировки по диагностике и поверке Тестеров FORMULA | |
1.1 | Стажировка по диагностике и поверке Тестеров СБИС линейки FORMULA HF | 16 ч. |
1.2 | Стажировка по диагностике и поверке Тестеров БИС и ИМС FORMULA 2К | 10 ч. |
1.3 | Стажировка по диагностике и поверке Тестеров полупроводниковых приборов FORMULA TT2 | 10 ч. |
1.4 | Стажировка по диагностике и поверке Тестеров слаботочных электромагнитных реле FORMULA R | 12 ч. |
1.5 | Стажировка по диагностике и поверке Тестеров полупроводниковых приборов FORMULA TT3 | 10 ч. |
2 | Программы стажировки по работе с Тестерами FORMULA | |
Стажировка Тестеры СБИС FORMULA HF3/HF3-512: | ||
2.1 | Базовый курс (основные навыки работы с Тестерами, обзор эксплуатационной документации, разработка измерительной программы (ИП) на примере типовых СБИС и ИМС памяти) | 24 ч. |
2.2 | Расширенный курс (практические занятия по разработке ИП в соответствии с ТУ на примере типовых СБИС и ИМС памяти) | 40 ч. |
Стажировка Тестеры БИС и ИМС FORMULA 2K: | ||
2.3 | Экспресс курс (основные навыки работы с Тестерами, обзор эксплуатационной документации) | 8 ч. |
2.4 | Базовый курс (основные навыки разработки ИП в соответствии с ТУ на примере микросхем простой логики) | 16 ч. |
2.5 | Стажировка по разработке измерительных программ на Тестерах БИС и ИМС FORMULA 2K | 24 ч. |
2.6 | Стажировка по работе с модулем контроля микросхем памяти (ОЗУ) Тестеров БИС и ИМС FORMULA 2K | 16 ч. |
2.7 | Стажировка по работе с комплексом электротермотренировки ИМС FORMULA BiS-2K | 16 ч. |
Стажировка Тестеры полупроводниковых приборов FORMULA TT2: |
||
2.8 | Стажировка по работе с Тестерами полупроводниковых приборов FORMULA TT2 (базовый курс) | 8 ч. |
2.9 | Стажировка по разработке ИП на Тестерах полупроводниковых приборов FORMULA TT2 | 12 ч. |
Стажировка Тестеры слаботочных электромагнитных реле FORMULA R: | ||
2.10 | Стажировка по работе с Тестерами слаботочных электромагнитных реле FORMULA R (базовый курс) | 8 ч. |
Стажировка Тестеры электронных узлов FORMULA CK: | ||
2.11 | Стажировка по работе с Тестерами электронных узлов FORMULA CK (базовый курс) | 16 ч. |
Стажировка Тестеры полупроводниковых приборов FORMULA TT3: | ||
2.12 | Стажировка по работе с Тестерами полупроводниковых приборов FORMULA TT3 (базовый курс) | 8 ч. |
2.13 | Стажировка по разработке ИП на Тестерах полупроводниковых приборов FORMULA TT3 | 10 ч. |