XC18V01SO20I
Описание
Тестовое решение (ТР) предназначено для автоматизированного контроля функционирования и измерения электрических параметров микросхем ПЗУ XC18V01SO20I (далее – объект контроля) на соответствие нормам приёмки и поставки по технической спецификации производителя Xilinx XC18V00 Series In-System-Programmable Configuration PROMs Data Sheet, ver. 6.1, February 5, 2019 и согласно метрологическим характеристикам «Системы контрольно-измерительной Тестера СБИС FORMULA HF3-512».
ТР применяется для автоматизированного контроля и измерений в нормальных климатических условиях.